回路电阻测试仪的恒流源技术通过独立电流-电压回路设计、大电流击穿氧化膜以及高精度采样与抗干扰算法,有效克服了接触电势对低电阻测量的干扰,其核心原理与实现方式如下:
一、独立电流-电压回路:消除接触电阻的串联影响
回路电阻测试仪采用四线制测量法(开尔文电桥原理),将电流激励回路与电压检测回路分离。恒流源通过粗导线(C1、C2)向被测电阻施加100A—600A大电流,此时电流路径中的接触电阻(如测试夹与被测件间的电阻)因串联于高电流回路,其压降(I×Rcontact)被恒流源的稳流特性抑制,对整体电流稳定性影响极小。电压检测回路则通过高阻抗细导线(P1、P2)直接测量被测电阻两端的微小压降(μV级),由于电压表输入阻抗(通常>10MΩ),接触电阻在电压回路中产生的压降(Icontact×Rcontact)趋近于零,从而避免了接触电势对测量结果的干扰。
二、大电流击穿氧化膜:降低表面接触电阻
断路器触头等被测件在长期运行后,表面会形成氧化膜或油膜,导致接触电阻显著增大。恒流源技术通过输出100A以上大电流,在接触面产生局部高温(焦耳热Q=I²Rt),使氧化膜瞬间击穿或熔化,恢复金属-金属直接接触。例如,在200A测试电流下,氧化触点的电阻波动可从±3μΩ降至±0.5μΩ,有效降低了表面接触电阻对测量的影响。
三、高精度采样与抗干扰算法:抑制共模噪声
回路电阻测试仪内置24位A/D转换器与数字滤波技术,可实时采集电压电流信号并剔除噪声干扰。当测试现场存在强电磁场(如母线带电)时,电压测试线可能通过空气电容耦合引入共模噪声,但恒流源的稳定输出使电压回路电阻极小,感应电压被电容器接地方式抑制至较低水平。此外,测试仪通过三次采样取均值算法,进一步消除了接触电势的瞬时波动对测量结果的影响,确保最终电阻值误差≤±0.5%±1d。