JXDL-II SF6定量检漏仪

JXDL-II SF6定量检漏仪

是本公司以红外技术为基础自己开发出来的，并申请了发明（号：ZL20092 0196037.0）；同时配备了当前*ARM开发技术、相对湿度传感器以及温度传感器等精密传感器，使得采样数据更真实、更可靠、运算速度更快等优点。仪器采用彩色液晶触摸屏显示，界面美观、易于操作。

主要特点

※ 大容量储存功能

※ 触摸式操作，使得操作简单方便

※ 大屏幕彩色液晶显示

※ 抗污染、抗干扰

※ 体积小巧美观，易于携带

※ 电池电量提示

※ 重复性好、响应速度快

※ *探头保护功能

※ 灵敏度高、稳定性好

技术指标

※测量范围： 0～5000 uL/L测量精度：±0. 1 uL/L

※分 辨 率：0.01ppm重 复 性：±0.06 ppm

※探头保护：不锈钢烧结过滤网

※工作电压： 110～220VAC，交直流两用储存温度等级：-40～+70℃

※操作环境： 温    度： -35～+60℃          

                  压    力： 0～20bar         

※样气流速： 无影响锂电池，交直流电两用，自动切换，过充过放保护功能

※体积: 250*200*90mm3

※重量: 2.0kg

※指示方法：指示仪表显示和声光讯号

JXDL-II SF6定量检漏仪