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JXDL-II SF6定量检漏仪以红外技术为基础自己开发出来的，并申请了发明（号：ZL20092 0196037.0）；同时配备了当前*ARM开发技术、相对湿度传感器以及温度传感器等精密传感器，使得采样数据更真实、更可靠、运算速度更快等优点。仪器采用彩色液晶触摸屏显示，界面美观、易于操作。
更新时间：2025-10-31
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